W4型全譜直讀光譜儀擁有多項(xiàng)技術(shù),可快速的對金屬材料樣品進(jìn)行元素測定。光學(xué)系統(tǒng)采用CMOS檢測器,光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素,它都能準(zhǔn)確、可靠的分析。針對不同材料、不同要求,具有性價(jià)比高的全譜直讀光譜儀,可滿足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號識別、材料研究和開發(fā)的應(yīng)用。
1、性能優(yōu)越的光學(xué)系統(tǒng)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)凹面光柵,全譜覆蓋,滿足客戶對全元素檢測的需求。
直射式光學(xué)技術(shù)及采用MgF材料制作的光學(xué)器件,保證紫外區(qū)域的較佳性能。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng),更低的暗電流,更好的檢出限,更高的穩(wěn)定性,更強(qiáng)的靈敏度,滿足N的分析要求。
2、大能量的數(shù)字激發(fā)光源
全數(shù)字化智能復(fù)合光源DDD技術(shù),帶來優(yōu)越分析性能。
緊湊的設(shè)計(jì)及半導(dǎo)體控制技術(shù),使得光源具有更好的穩(wěn)定性、更強(qiáng)的可靠性。
高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS),激發(fā)參數(shù)調(diào)整,充分滿足不同基體、不同樣品以及不同分析元素的激發(fā)要求。
3、人性化的樣品激發(fā)臺設(shè)計(jì)
激發(fā)臺直接將激發(fā)光導(dǎo)入光學(xué)系統(tǒng)
開放式樣品臺,滿足大樣品測試要求。
變換電極可對小樣品及復(fù)雜幾何形狀樣品分析有更好的性能
4、簡潔的氬氣流設(shè)計(jì)
智能氬氣流設(shè)計(jì)及粉塵收集清理裝置
獨(dú)特的氬氣噴射技術(shù),有效消除激發(fā)過程中等離子體的飄移,確保CCD檢測器能夠觀測高溫區(qū)域光信號,提高精度和穩(wěn)定性。
激發(fā)后,脈沖式氬氣吹掃,提高粉塵去除效果,提升儀器的短期和長期穩(wěn)定性。
5、全智能的真空測量和控制
真空系統(tǒng)完全程控,在保證真空度的同時(shí)減少真空泵的運(yùn)行時(shí)間,
雙級設(shè)置,在儀器不運(yùn)行的情況下,開啟待機(jī)真空運(yùn)行狀態(tài)。
多級真空隔離措施及增加濾油裝置,保障光學(xué)元器件在可靠的環(huán)境中工作。
6、方便快捷的透鏡清理裝置
單板式透鏡設(shè)計(jì),拆裝方便。
7、云計(jì)算及讀出系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)與手機(jī)(或PAD)可同步顯示,方便面板操作。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)及FPGA、DSP和ARM技術(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。
以太網(wǎng)和TCP/IP協(xié)議,數(shù)據(jù)傳輸高速、可靠。
數(shù)據(jù)可遠(yuǎn)程傳輸,全面實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化。實(shí)時(shí)方便對儀器運(yùn)行狀態(tài)的監(jiān)測和控制。
數(shù)據(jù)可進(jìn)行云打印。
8、專用的光譜分析軟件
國際光譜儀制作標(biāo)準(zhǔn)的專用光譜儀軟件,操作界面人性化,功能標(biāo)準(zhǔn)化。
儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析方法和先進(jìn)的解決方案。
可根據(jù)用戶的材料要求,可現(xiàn)場延長標(biāo)準(zhǔn)曲線的測量上、下限。
9、儀器及軟件運(yùn)算功能強(qiáng)大
自動(dòng)光路校準(zhǔn)
低氬氣消耗
通用可調(diào)樣品適配器
基體擴(kuò)展功能
標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)修改
控樣修正功能
更安全、更開放的便捷設(shè)計(jì)
結(jié)果實(shí)時(shí)顯示,可為用戶定制打印報(bào)告功能
軟件快速診斷
界面操作簡單
可靠的工廠校準(zhǔn)功能